热门搜索:CHUO中央精机,KABUTO顶针,HORIBA光泽度计,RUNOUT偏摆测试仪
适合 D,F,G,J,K类RDC测量,电阻分选机/绕线机,电感器,热敏电阻新功能配备了新的方法,在测量过程中具有接触检查功能。可靠性进一步提高通过测量重试功能有助于提高产量
在低电阻和高电阻范围内显着提高了测量速度,在保持精度的同时,速度提高了约2至2.7倍可以通过附件的应用程序管理测量数据(对于Windows)(测量数囹釕者病可以以CSV格式保存)
局域网接口选项
条形码(QR码)界面选项
特性
与极小的芯片兼容(低功率测量)
超高速测量(代表值,从START到EOC的实际测量值0.9毫秒)通过热动力消除测量实现高度准确和稳定的测量
通过每个范围的积分时间设置功能实现超高速和高稳定性测量%测量:-99.99%至+25.00%[标准设置范围5m0至109M02]值测量:0.00mQ至125.00MQ
接触检查:可以选择测量前/测量后/关闭
(在任何状态下测量期间均会持续监控接触状态)触头清洁功能标准设备
RS-232C接口标准设备(可选GP-IB/LAN /条形码)打印机输出标准设备(与Centronics兼容)
设定值传送功能的标准设备:(
相同的设定数据可以传送到另一台AE-182A,AE-162E并自动设置)测量电流/测量电压/ADC数据异常检查功能为标准设备校准后180天[校准后1年:1.5倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
扫一扫 更多精彩
微信二维码
网站二维码