粉末电阻率测试系统可代替三菱化学MCP-PD51

 粉末电阻率测试系统可代替三菱化学MCP-PD51

粉末电阻率测试系统可代替三菱化学MCP-PD51

 eLiPMS-2000 粉体电阻率测试系统组成、功能、性能表： 

系统搭配三菱化学 Loresta-GX 高精度四探针仪 (MCP-T700)、自主开发之测试软件、一般办公用电脑。

 1) 内置的精密四探针探头模腔组件及精密荷重测力传感器单元，大施加压力 30KN，约 95MPa； 在大压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动，自动进行加压、测试、释放。

2) 简易操作软件界面，可设置压力点下的保压时间（保压时间到再测试），自动测量压实下粉末 之电阻、面电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。

3) 系统通过与三菱化学LORESTA-GX(MCP-T700)低阻率计连接，可测试宽范围之粉体阻抗特征。 电阻测试范围：0.001*10-4~9.999*107 Ω；电阻率=Ω*厚度（单位 cm）

4) *的探针单元，高精度四探针测试原理，消除样品与探头及引线所引起的误差。 也可以裁剪φ20mm 的正负电极片形成样品来测试电池极片在不同压力下的电阻特性；或者单 独使用 MCP-T700 及其标配探头或选配探头来测试片材，所谓一机两用。

应用：阻性粉末材料研发及品质控制。

 测试领域：碳 粉 如充电电池的电极材料、电子材料（电容器，电阻等）等

 金属粉末：电池的电极材料、薄膜材料（铜粉末、ITO 粉末等等）、导电膏、导电油漆和涂料、绿 色接触材料等。

其它粉末： 墨粉和相关的粉体/磁性材料如铁素体、汽车配件等材料