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  • 核心技术优势稳定且安全的吸附性能:依托精密的真空吸附逻辑与材质适配性,该吸笔杆可实现从硅片到各类小物体的稳定吸附。吸嘴的镜面处理与PEEK材质的柔软特性相结合,能在吸附过程中做到抓取,解决了传统工具易划伤精密元件的痛点。同时,适配多种尺寸的...

  • 用于8英寸半导体晶圆处理的防静电真空吸尘杆专为处理8英寸半导体晶圆而设计。机身采用导电尼龙制成。由导电PEEK制成。C001-X-97-CP北卡罗来纳州球形旋转器C001-X(含100)97-CPC001-Y-92-CP北卡罗来纳州固定的C...

  • AEMIC爱美克AE-1142B低成本高精度直流欧姆表半导体工业品3.4毫秒高速测量测量。测量范围:0.00m0~15,000MO四端测量。可测量设定参考值的百分比:5毫欧~10兆欧士50.0%[小分辨率5微欧]温度补偿(传感器:可选)[0...

  • 使用与维护注意事项规范匹配测量模式:测量前需根据电阻阻值范围确认测量模式,99.9kΩ以下优先使用4端子测量模式以保障精度;100kΩ以上可根据现场工况选择2端子或4端子模式,避免因模式选择不当导致测量偏差。重视校准与环境控制:设备精度基于...

  • 核心性能优势超高承载与抗疲劳能力:依托的“SuperiorCapacityPlus”技术,该链条允许载荷达到5610磅,远超同类型普通链条。冷锻实心部件与特殊热处理工艺的结合,使其在长期循环传动中能有效抵抗疲劳磨损,显著降低断裂、变形等故障...

  • FV-60的真空性能参数经过场景化优化,在小型化机身中实现高效抽气能力:极限真空度:可达-600mmHg(-80kPa),能快速建立稳定真空环境,满足半导体晶片吸附、实验室真空过滤等中低真空需求,较同系列FV-30型号真空度提升100。气流...

  • 光学系统:标准镜头加持,兼顾精度与范围光源特性:采用灯泡色LED光源,显色性优异且光线柔和,既能真实还原工件表面缺陷的色彩差异(如镀层氧化与划痕的区分),又能避免强光直射导致的视觉疲劳,适配长时间质检作业需求。照度与覆盖范围:搭载TKG-3...

  • HAYASHI(林时计)作为日本工业照明品牌,深耕精密制造领域检测照明技术数十年,SPA2-10SDZ是其针对微小缺陷检测场景推出的旗舰级LED表面检查灯。该产品以“变焦赋能精准检测”为核心设计理念,通过高中心照度、灵活调光与无干扰散热设计...

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